TS-3000荧光硫测定仪 概　　述： TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回

TS-3000荧光硫测定仪 概　　述： TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回

TS-3000荧光硫测定仪 概　　述： TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回

TS-3000荧光硫测定仪 概　　述： TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回

概　　述： 仪器采用紫外荧光法测定硫含量原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时，过量的能量就以光的形式释放出来，并用光电倍增管按特

仪器采用动态微库仑法原理。待测样品经裂解管中燃烧发生氧化还原反应，由载气带入滴定池中转化为可滴定离子，并与电生的I3-或Ag-发生反应，通过计算电生I3-或Ag-的电量，根据法拉第定律，可得到样品的总硫或总氯含量。 适用范围：用于石油、石油化工、医药、卫生、环保、煤炭、地质、冶金、商检、质检、学校等生产、科研、监测领域中样品的总硫或总氯含量分析。 符合标准：符合SH/T 0253、SH/T 0254、SH/T 0222、ASTM D3120、ASTM D3246等标准。　

TS-3000荧光硫测定仪 概　　述： TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回

TS-5000紫外荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。

紫外荧光硫测定仪概　　述： 紫外荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时，过量的能量就以光的形式释放出来，并用光电倍增管按特定波长检测接收，发射的荧光对于硫来讲*是特定的并且与原样品中硫的含量成正比。再经微电流放大器放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。 紫外荧光硫测定仪适用范围：适用于测定原油、馏分油、石油气、塑料、石油化工产品、食物等中总硫含量。 紫外荧光硫测定仪符合标准：符合ASTM D5453、SH/T 0689等标准。